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比表面積及孔徑分析儀

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孔徑分析儀及比表面積儀

更新時間：2024-10-23

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經(jīng)過改進(jìn)升級后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計量檢測，證書編號為：計測字第 2002-（17）-017。
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BSD-PMC腐蝕性氣體吸附分析及比表面積及孔徑分析儀

更新時間：2024-10-25

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產(chǎn)品簡介：腐蝕性氣體吸附分析及比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
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BSD-PS硼粉比表面及孔徑分析儀

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-PS

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硼粉比表面及孔徑分析儀，具有2個樣品預(yù)處理脫氣站，2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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BSD-660比表面及孔徑分析儀

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-660

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比表面及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660高精度比表面及孔徑分析儀

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-660

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高精度比表面及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660PS系列比表面積及孔徑分析儀

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型號：BSD-660

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PS系列比表面積及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660全自動比表面及中孔微孔分布分析儀

更新時間：2024-10-25

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全自動比表面及中孔微孔分布分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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孔徑分析儀及比表面分析儀

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經(jīng)過改進(jìn)升級后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計量檢測，證書編號為：計測字第 2002-（17）-017。2004年推出BET多點(diǎn)法教學(xué)用3H-2000II型;2005年推出3H-2000III型;2008年推出的全自動智能運(yùn)行的3H-2000A型,以及BET原理的BET單點(diǎn)法的3H-2000BET-S型,BET多點(diǎn)法的3H-2000BET-M型,BET多點(diǎn)法的3H-2000BET-A型;3H-2000PS系列比表面及孔徑分析儀。
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